IEEE 電子器件字母
國際簡稱:IEEE ELECTR DEVICE L
按雜志級別劃分: 中科院1區(qū) 中科院2區(qū) 中科院3區(qū) 中科院4區(qū)
Ieee Electron Device Letters是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商主辦的工程技術領域的專業(yè)學術期刊,自1980年創(chuàng)刊以來,一直以高質量的內容贏得業(yè)界的尊重。該期刊擁有正式的刊號(ISSN:0741-3106,E-ISSN:1558-0563),出版周期Monthly,其出版地區(qū)設在UNITED STATES。該期刊的核心使命旨在推動工程技術專業(yè)及ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC學科界的教育研究與實踐經驗的交流,發(fā)表同行有創(chuàng)見的學術論文,提倡學術爭鳴,激發(fā)學術創(chuàng)新,開展國際間學術交流,為工程技術領域的發(fā)展注入活力。
該期刊文章自引率0.1020...,開源內容占比0.057,出版撤稿占比0,OA被引用占比0,讀者群體主要包括工程技術的專業(yè)人員,研究生、本科生以及工程技術領域愛好者,這些讀者群體來自全球各地,具有廣泛的學術背景和興趣。Ieee Electron Device Letters已被國際權威學術數據庫“ SCIE(Science Citation Index Expanded) ”收錄,方便全球范圍內的學者和研究人員檢索和引用,有助于推動ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領域的研究進展和創(chuàng)新發(fā)展。
學科類別 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering | Q1 | 128 / 797 |
84% |
大類:Engineering 小類:Electronic, Optical and Magnetic Materials | Q1 | 51 / 284 |
82% |
CiteScore: 這一創(chuàng)新指標力求提供更為全面且精確的期刊評估,打破了過去僅依賴單一指標如影響因子的局限。它通過綜合廣泛的引用數據,跨越多個學科領域,從而確保了更高的透明度和開放性。作為Scopus中一系列期刊指標的重要組成部分,包括SNIP(源文檔標準化影響)、SJR(SCImago雜志排名)、引用文檔計數以及引用百分比。Scopus整合以上指標,幫助研究者深入了解超過22,220種論著的引用情況。您可在Scopus Joumal Metrics website了解各個指標的詳細信息。
大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 2區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 | 2區(qū) | 否 | 否 |
大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 2區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 | 2區(qū) | 否 | 否 |
大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 2區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 | 2區(qū) | 否 | 否 |
大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 2區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 | 2區(qū) | 否 | 否 |
大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 2區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 | 2區(qū) | 否 | 否 |
大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 2區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 | 2區(qū) | 否 | 否 |
按JIF指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 94 / 352 |
73.4% |
按JCI指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 77 / 354 |
78.39% |
JCR(Journal Citation Reports)分區(qū),也被稱為JCR期刊分區(qū),是由湯森路透公司(現在屬于科睿唯安公司)制定的一種國際通用和公認的期刊分區(qū)標準。JCR分區(qū)基于SCI數據庫,按照期刊的影響因子進行排序,按照類似等分的方式將期刊劃分為四個區(qū):Q1、Q2、Q3和Q4。需要注意的是,JCR分區(qū)的標準與中科院JCR期刊分區(qū)(又稱分區(qū)表、分區(qū)數據)存在不同之處。例如,兩者的分區(qū)數量不同,JCR分為四個區(qū),而中科院分區(qū)則分為176個學科,每個學科又按照影響因子高低分為四個區(qū)。此外,兩者的影響因子取值范圍也存在差異。
年份 | 年發(fā)文量 |
2014 | 393 |
2015 | 402 |
2016 | 394 |
2017 | 419 |
2018 | 448 |
2019 | 459 |
2020 | 417 |
2021 | 429 |
2022 | 522 |
2023 | 477 |
被他刊引用情況 | |
期刊名稱 | 引用次數 |
IEEE T ELECTRON DEV | 1587 |
IEEE ELECTR DEVICE L | 1317 |
JPN J APPL PHYS | 594 |
APPL PHYS LETT | 460 |
IEEE J ELECTRON DEVI | 445 |
APPL PHYS EXPRESS | 366 |
SEMICOND SCI TECH | 277 |
J APPL PHYS | 268 |
SOLID STATE ELECTRON | 257 |
ECS J SOLID STATE SC | 249 |
引用他刊情況 | |
期刊名稱 | 引用次數 |
IEEE ELECTR DEVICE L | 1317 |
IEEE T ELECTRON DEV | 865 |
APPL PHYS LETT | 812 |
J APPL PHYS | 318 |
ADV MATER | 217 |
NANO LETT | 150 |
ACS APPL MATER INTER | 142 |
SCI REP-UK | 138 |
NATURE | 132 |
APPL PHYS EXPRESS | 119 |
控制與決策
中科院分區(qū):4區(qū)
強化傳熱雜志
中科院分區(qū):4區(qū)
醫(yī)學影像信息學雜志
中科院分區(qū):2區(qū)
中國空間科學技術
中科院分區(qū):4區(qū)
國際發(fā)動機研究雜志
中科院分區(qū):4區(qū)